特性分析、高低溫溫變測(cè)試、溫度沖擊測(cè)試、失效分析等可靠性試驗(yàn)，如：
半導(dǎo)體芯片、SOC
閃存Flash/EMMC
PCBs、IC器件、MCMs、小型模塊組件
光通訊（如收發(fā)器 Transceiver 高低溫測(cè)試、SFP 光模塊高低溫測(cè)試等）
產(chǎn)品參數(shù)
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低溫設(shè)備的研發(fā);軟件開發(fā)及技術(shù)咨詢、技術(shù)服務(wù)、技術(shù)轉(zhuǎn)讓；計(jì)...
服務(wù)咨詢熱線：
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TS-760發(fā)光器件高低溫測(cè)試儀器
參考價(jià): ￥1.00萬/件
庫(kù)存量: 9999件
起定價(jià): ￥10000.00/件
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羅林波 （先生）
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產(chǎn)品名稱：TS-760發(fā)光器件高低溫測(cè)試儀器
詳細(xì)信息 應(yīng)用
特性分析、高低溫溫變測(cè)試、溫度沖擊測(cè)試、失效分析等可靠性試驗(yàn)，如： 半導(dǎo)體芯片、SOC 閃存Flash/EMMC PCBs、IC器件、MCMs、小型模塊組件 光通訊（如收發(fā)器 Transceiver 高低溫測(cè)試、SFP 光模塊高低溫測(cè)試等） 聯(lián)系方式
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